ICT33-D是以器件预期响应法为指导思想，以微机智能化为结构的多功能程、 测试仪器，它以高档单片机为核心，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是最重要、最根本、最能说明问题的参数。 ICT33-D的基本要素
1．ICT33-D操作由20个轻触键，多音提示。
2．八位液晶显示器，九只显示，声音提示。
3．ICT33-D最多接受六位型号数字输入。
4．本机电源：交流220V+15%。
5．本机功耗：15VA。
6．测试电压：3.3V、5.0V、9.0V、15V。
7．编程电压：12.5V，21V，26V。
8．编程速度：9档。
9．适用温度：0-10℃。
10.测试脚数：40脚。
11.测试规范
输入短路测试；输出短路测试；100%的功能测试；输出高电平：VT（测试电源）-1.5V以上。输出低电平：0.7V以下；输入高电平：VT-0.2V，输入低电平：0.1V。
12．逻辑笔的两根输入线，一根接地，一根用于测试被测点。
适用范围
ICT33-D具有以下用途：
1．用于维修各类电子产品，判别集成电路的好坏。
2．用于各种智能仪器程序的复制、保存。
3．新产品的开发、研制、调试。
4．中小规模程序的调试。
5．EPROM、EEPROM的器件的复制、修改、组合。
6．检验新器件的质量。
7．破译被抹去型号集成电路的真实型号。
ICT33-D的测试容量
1．TTL74、54系列。
2．TTL75、55系列。
3．CMOS40、45、14系列。
4．光耦合器系列。
5．LED显示器系列。
6．EPROM系列。
7．EEPROM系列。
8．常用单片机系列。
9．常用RAM系列。
10.常用微机外围电路系列。
11.其它常用电路系列。
ICT-33D可测器件详细清单参看附录测试容量清单。 |
